日本細(xì)粒粉體異物検査裝置 FAVIS-3000

検査システムと動作

異物が細(xì)粒の影に隠れることがないように、ドラム上で一層化した細(xì)粒を、高精度に異物を検出?吸引排除し、良品細(xì)粒を排出する構(gòu)造にしています。

検査システム內(nèi)部

ドラム搬送方法

検査が確実に行われているか動作狀況を常時モニタリングしています。
搬送部は、部品を簡単に取外して洗浄が行える構(gòu)造となっています。

ドラム方式採用による安定した検出
※特許出願番號）特願平10-285436［粉粒體中の異物検査方法および検査裝置］

細(xì)粒に隠れて検出し難い異物をラインセンサカメラにて撮像可能とするため、フィーダにより定量を送り出し、更にドラム上に流すことにより細(xì)粒を一層化して、異物が細(xì)粒と重なり合わずに露出させて搬送しています。撮像した畫像は、専用畫像処理回路により高精度?高速処理して、異物を検出します。

簡単洗浄構(gòu)造

本裝置の搬送部（ホッパー、フィーダのトラフ、ドラム、シュート）、及びその周辺（排出機構(gòu)、排出ホース、その他カバー類等）は、簡単に取り外し、洗浄できる構(gòu)造となっています。

豊富なデータモニタリング

裝置動作のアラームモニタリングはもちろん、検出異物の畫像、品名、ロットNo、稼動時間、異物検出數(shù)といった［生産管理データ］や、サンプル測定結(jié)果、光量データといった［モニタリングデータ］を表示及び全數(shù)データ保存をします。更に不良畫像のファイリングもおこないます。

本システムで検出した異物サンプル例 ＜參考＞

① 眉毛

② 有色異物

③ 100µm黒色異物