技術(shù)運(yùn)用
?        使用太陽科學(xué)CR-100質(zhì)構(gòu)儀測(cè)試夾心餅干硬度
目的        本實(shí)驗(yàn)利用質(zhì)構(gòu)儀檢測(cè)夾心餅干硬度
實(shí)驗(yàn)方法        穿刺實(shí)驗(yàn)
樣品制備        將夾心餅干派置于探頭下方正中央，探頭盡可能接近樣品表面，使用探頭P/5對(duì)樣品進(jìn)行穿刺。
附件及探頭        P/5
曲線圖         
表層硬度：第一個(gè)力的最大值點(diǎn)。
夾心硬度：第二個(gè)力的最大值點(diǎn)。
樣品        1號(hào)        2號(hào)
表層硬度/g        1625.58        1548.77
夾心硬度/g        703.43        324.85
結(jié)論        本實(shí)驗(yàn)采用穿刺實(shí)驗(yàn)測(cè)試餅干的硬度。從測(cè)試圖中可以看出，夾心餅干的表層硬度大于中層的硬度。實(shí)驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)，同一批次的夾心餅干的硬度是有差別的，這可能與夾心餅干的制作工藝有關(guān)。同時(shí)還發(fā)現(xiàn)有些餅干的中空現(xiàn)象比較嚴(yán)重。
測(cè)試數(shù)據(jù)處理        數(shù)據(jù)分析：為能夠取得代表性的數(shù)據(jù)，更加客觀的反應(yīng)夾心餅干的硬度，去掉每個(gè)批次數(shù)據(jù)中最高、低值之后，再計(jì)算平均值、方差。

日本進(jìn)口太陽科學(xué)質(zhì)構(gòu)儀物性測(cè)定儀CR-100規(guī)格