光學(xué)非接觸式小徑內(nèi)徑測(cè)量?jī)xIDM的運(yùn)用案例分析
小直徑內(nèi)徑測(cè)量?jī)xIDM是一種光學(xué)非接觸式測(cè)量?jī)x,可以處理各種測(cè)量。
-除了測(cè)量環(huán)的內(nèi)徑外,還可應(yīng)用于孔距、方度、錐度、方孔和狹縫。此外,由于可以測(cè)量外徑和外寬,因此也可以測(cè)量同軸度。
- 可用于客戶擁有的母帶測(cè)量?jī)x的內(nèi)部校準(zhǔn)。
- 可以從最小 φ0.1 mm 到最大 Φ100 mm 進(jìn)行測(cè)量。
? 分辨率 0.01 μm(選項(xiàng))
?.非接觸式測(cè)量不會(huì)損壞工作。
- 易于對(duì)齊,無(wú)需測(cè)量技能。
-配備溫度補(bǔ)償系統(tǒng),自動(dòng)轉(zhuǎn)換為20°C時(shí)的測(cè)量值。
主要測(cè)量實(shí)例:
環(huán)規(guī)、剪刀規(guī)、軸承、模具、光纖連接器、注塑件等。
測(cè)量示例
IDM 可以測(cè)量任何高度和厚度位置的內(nèi)徑。
測(cè)量應(yīng)用示例
不僅可以測(cè)量環(huán)規(guī),還可以測(cè)量孔距、垂直度和錐度。也可適用于方孔和狹縫,
外徑和外寬的測(cè)量方法相同,因此可用于內(nèi)外徑同軸度等多種用途。
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