日本Kurabo Industries 的薄膜厚度檢測儀介紹
紅外光譜廣泛用于化學(xué)成分的定性/定量分析。
Kurabo Industries 的薄膜厚度計是一種帶有所謂“化學(xué)眼"的測量儀器,它針對您想要使用這種紅外技術(shù)測量的層和組件。
我們提供使用 T 型模具進(jìn)行厚度控制所需的
高精度厚度信息。
不僅可以測量鋰離子電池的隔膜基膜,還可以分別測量各層的各種耐熱涂層的厚度。
LIB隔膜基膜基重
LIB 隔離層厚度
以上同時測量
濕法/干法過程中各種微量成分的測量
測量規(guī)格 | |
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光度法 | 紅外線吸收法 |
光譜法 | 旋轉(zhuǎn)過濾方式(可安裝6張) |
測量距離 | 20mm(兩個傳感器頭之間:40mm) |
測量區(qū)域 | 20 x 30 mm(橢圓形)RX-4000:2 個點,RX-4100:1 個點 |
機身規(guī)格 | |
傳感頭 |
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RX-4100 重量:泛光燈傳感器10.4kg,光接收傳感器8.6kg | |
繼電器單元 | 外形尺寸:322(W)x 140(D)x 113(H)(不包括突出部分) |
重量:4公斤 | |
電源:AC100V±10% 50 / 60Hz 200VA | |
外部輸出 | RS422A (9600BPS) 數(shù)字輸出至上位機 |
工作溫度 | 5-40°C(無冷凝,35°C以上環(huán)境需要空氣吹掃) |
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