表面附著異物可視化技術(shù)分析
粒子可視化技術(shù)可用于以高靈敏度檢測光滑表面上的粒子。此外,通過可視化顆粒成分的熒光,可以每天管理表面污染物和污漬。
高靈敏度微??梢暬夹g(shù)是一種捕捉運(yùn)動(dòng)微粒散射光的技術(shù)。同樣的原理可用于高靈敏度檢測表面異物和移動(dòng)產(chǎn)品的微弱散射光。激光只能應(yīng)用于光滑的產(chǎn)品,但例如,即使在薄膜中也可以通過可視化檢測施加張力的位置。
使用散射光檢測表面污染物
附著在表面的異物或污垢可能會返回來自其成分的熒光。為了使熒光顏色清晰,需要對照射光進(jìn)行設(shè)計(jì),但如果用特殊濾光片切斷散射光,表面異物會很鮮艷,很容易看清。使用這種方法,只要光線到達(dá)表面,無論表面的光滑度如何,都可以進(jìn)行可視化?!癉 Light"可以免費(fèi)租借(約2天)。請借此機(jī)會嘗試一下。
使用熒光識別異物和污垢
“D Light",一種可以更容易地看到表面異物和污漬的熒光色的工具
“D Scope",即使是微弱的熒光也能捕捉到,分析微粒子的各種信息并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)的工具
一種相對容易設(shè)置在您想要可視化的表面上的光源是“Parallel Eye F" 。
“Parallel Eye H"是可視化寬大光滑產(chǎn)品表面的最佳光源。
“Parallel Eye D"是可視化不平整表面和突出熒光的最佳光源。
具有粒子檢測專用靈敏度和功能的超高感度相機(jī)是專用超高感度相機(jī)“Iscope" 。
用于在 PC 上進(jìn)行實(shí)時(shí)圖像處理和記錄的圖像處理包“ParticleEye"
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