日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測厚儀

產(chǎn)品名稱: 日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測厚儀

產(chǎn)品型號(hào): TOF-C2 * TOF-C

產(chǎn)品特點(diǎn): 日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測厚儀TOF-C2 * TOF-C
離線型厚度計(jì)是臺(tái)式緊湊型厚度計(jì)。將薄膜或薄片切成條狀并測量。主要特征是任何人都可以輕松，快速地進(jìn)行測量，因?yàn)闇y量是在自動(dòng)運(yùn)輸時(shí)執(zhí)行的，并且不受測量者技能的影響。
它通常用于質(zhì)量控制部門和研發(fā)應(yīng)用程序。另外，由于測量圖可以以環(huán)形顯示，因此它們經(jīng)常用于吹膜生產(chǎn)現(xiàn)場。

日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測厚儀 的詳細(xì)介紹

日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測厚儀TOF-C2 * TOF-C

日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測厚儀

厚度臺(tái)式型離線型用于質(zhì)量控制和檢查

離線型厚度計(jì)是臺(tái)式緊湊型厚度計(jì)。將薄膜或薄片切成條狀并測量。主要特征是任何人都可以輕松，快速地進(jìn)行測量，因?yàn)闇y量是在自動(dòng)運(yùn)輸時(shí)執(zhí)行的，并且不受測量者技能的影響。
它通常用于質(zhì)量控制部門和研發(fā)應(yīng)用程序。另外，由于測量圖可以以環(huán)形顯示，因此它們經(jīng)常用于吹膜生產(chǎn)現(xiàn)場。

型號(hào)	TOF-C2 * TOF-C的后續(xù)型號(hào)
測量方式	非接觸型/電容型
測量目標(biāo)	薄膜，例如拉伸膜，粘性保護(hù)膜，容易粘附灰塵的膜
測量原理	電容式

產(chǎn)品特點(diǎn)

高測量分辨率
非常適合非接觸型難以接觸的薄膜
即使在粗糙的表面上也可以測量
基重測量
操作簡便（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)定功能）

日本yamabun薄膜臺(tái)式離線電容式測厚儀TOF-C2 * TOF-C

產(chǎn)品規(guī)格

測量厚度	5至500μm
測量長度	10-10000毫米
測量間距	1毫米?
小顯示值	0.01微米
電源電壓	AC100V 50/60赫茲
工作溫度范圍	5-40°C（測量期間溫度變化在1°C以內(nèi)）
濕度	35-80％（無凝結(jié)）產(chǎn)品特點(diǎn) 高測量分辨率非常適合非接觸型難以接觸的薄膜即使在粗糙的表面上也可以測量基重測量操作簡便（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè) 產(chǎn)品特點(diǎn) 高測量分辨率非常適合非接觸型難以接觸的薄膜即使在粗糙的表面上也可以測量基重測量操作簡便（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè) 產(chǎn)品特點(diǎn) 高測量分辨率非常適合非接觸型難以接觸的薄膜即使在粗糙的表面上也可以測量基重測量操作簡便（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè) 產(chǎn)品特點(diǎn) 高測量分辨率非常適合非接觸型難以接觸的薄膜即使在粗糙的表面上也可以測量基重測量操作簡便（具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)