產(chǎn)品資料
日本napson光伏非接觸式PN判定裝置
產(chǎn)品名稱: 日本napson光伏非接觸式PN判定裝置
產(chǎn)品型號: PN-50α
產(chǎn)品特點(diǎn): 日本napson光伏非接觸式PN判定裝置產(chǎn)品特點(diǎn)通過LED光脈沖照射可以立即判斷由于它是非接觸式方法，因此不會(huì)損壞樣品。還可以確定表面上有氧化膜的晶片
日本napson光伏非接觸式PN判定裝置 的詳細(xì)介紹
日本napson光伏非接觸式PN判定裝置
光伏非接觸式PN判定裝置
產(chǎn)品名稱：PN-50α
產(chǎn)品圖片（可根據(jù)客戶要求進(jìn)行各種定制）
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 通過LED光脈沖照射可以立即判斷
- 由于它是非接觸式方法，因此不會(huì)損壞樣品。
- 還可以確定表面上有氧化膜的晶片
測量規(guī)格
測量目標(biāo)
與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
測量尺寸
支持2英寸或更大的錠塊
測量范圍
可由PN確定的樣品電阻范圍：0.1至1,000Ω·cm
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 通過LED光脈沖照射可以立即判斷
- 由于它是非接觸式方法，因此不會(huì)損壞樣品。
- 還可以確定表面上有氧化膜的晶片
測量規(guī)格
測量目標(biāo)
與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
測量尺寸
支持2英寸或更大的錠塊
測量范圍
可由PN確定的樣品電阻范圍：0.1至1,000Ω·cm
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 通過LED光脈沖照射可以立即判斷
- 由于它是非接觸式方法，因此不會(huì)損壞樣品。
- 還可以確定表面上有氧化膜的晶片
測量規(guī)格
測量目標(biāo)
與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
測量尺寸
支持2英寸或更大的錠塊
測量范圍
可由PN確定的樣品電阻范圍：0.1至1,000Ω·cm
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 通過LED光脈沖照射可以立即判斷
- 由于它是非接觸式方法，因此不會(huì)損壞樣品。
- 還可以確定表面上有氧化膜的晶片
測量規(guī)格
測量目標(biāo)
與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
測量尺寸
支持2英寸或更大的錠塊
測量范圍
可由PN確定的樣品電阻范圍：0.1至1,000Ω·cm
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