日本ae-mic超低電阻測試儀
測量范圍和基本精度(環(huán)境溫度23°C±5°C)
測量范圍 | 測量范圍 | 解析度 | 實測電流 | 測量精度 |
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1毫歐 | 0.0000mΩ?1.5000mΩ | 0.1微歐 | 3A | ±(0.01 Pasento RDG Tasu 1Myuomega) ±3Digit [平均] ±4位數[SLOW] ±5digit [快] 內 |
10毫歐 | 0.000mΩ至15.000mΩ | 1微歐 | 1A | |
100毫歐 | 0.00mΩ至150.00mΩ | 10微歐 | ||
1Ω | 0.0000Ω?1.5000Ω | 100微歐 | 100毫安 | |
10Ω | 0.000Ω至15.000Ω | 1毫歐 | ||
100Ω | 0.00Ω至150.00Ω | 10毫歐 | 10毫安 | |
1KΩ | 0.0000kΩ至1.5,000kΩ | 100毫歐 | 1毫安 | |
% | 0.1mΩ?1kΩ/±50.00% | 0.01%[10nΩ] | 看上面 | 參考規(guī)格 |
測量端子開路電壓 | 5V以下 |
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測量方式 | 4端子測量[可進行接觸檢查] |
采樣時間 | [自由運行] 2至10次/秒 |
[外部啟動]大約9毫秒-400毫秒。 | |
比較器設定范圍 | 上限和下限均為[0至15000], %范圍:低0至-50%,高0至+ 50% |
比較器判斷結果顯示 | [BIN1至BIN9]顯示和蜂鳴器 |
控制信號 | 測量開始信號:以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]開始 |
保持信號:斷開,“ H” [DC12V]:自由運行,“ L” [0V]:保持 | |
判斷結果信號[LO / GO(BIN1至BIN9)/ H1] :集電極開路輸出max40V,100mA | |
接觸錯誤[CONT-E]: 集電極開路輸出大40V,100mA | |
測量結束信號[EOC]:集電極開路輸出大40V,100mA | |
周邊環(huán)境 | 溫度:5℃?+ 40℃濕度:85%以下 |
需要電源 | AC85V-265V,50-60HZ,約60VA |
外形尺寸 | 333(W)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡膠腳等突起) |
重量 | 約3kg |
選項 | ? RS-232C | 這些選項中 只有 一個 可以內置。 |
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? GP-IB | ||
?打印機輸出(Centronics) | ||
?打印機電纜 | ||
?短接(零歐姆標準電阻) |
日本ae-mic超低電阻測試儀
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